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APD-QE 采用了光束空間強度技術，利用 ASTM 標準制定的「Irradiance Mode」測試方式，與各種先進探尖臺形成完整的微米級光感測器全光譜效率測試解決方案。APD-QE 已被應用于多種先進光感測器的測試中，例如在iPhone 曝光及其多種光感測器、Apple Watch 血氧光感測器、TFT 影像感測器、源動態圖元感測器（APS）、高靈敏度間切換 X 射線感測器等。
傳統的量子效率系統在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰。光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應測試與光電傳感器特性分析。
