光譜回應產品介紹

傳統的量子效率系統在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰。 如：

1.偏置電壓無法超過 12V：傳統量子效率系統使用鎖相放大器，其承受直流電壓無法過大，因此在一般的量子效率測試儀，電偏壓無法施加超過 12V。

2.無法做雜訊頻率分析。

3.無法直接測得 NEP 與 D*。

光焱科技針對新世代的光電探測器 （PD） 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE。

特色

PD-QE 系統是光焱科技在過去十年的小光斑 （power mode） 基礎上，進化開發完成。

PD-QE光譜回應測試與光電感測器特性分析 擁有以下幾點特色：

*可應用在 PV 的 EQE 量子效率測試、新型光感測器的研究。

*在全新的軟體平臺 SW-XQE 上，具有便捷的擴充性：可測試標準 EQE 外，更可整合多種 SMU 的控制，並量測IV曲線。 同時具備各種分析功能，如 D*、NEP、頻率雜訊圖。

規格

*PD-QE 有不同的模組，偏置電壓也可由 20 V 到 1000 V。 同時，可測量高解析度的光電流，解析度最高可達 ^10-16 A。

*波長擴充可達 1800 nm。

*可選配軟體升級控制 Kiethley 4200 SMU。

應用

PD-QE光譜回應測試與光電感測器特性分析可用於：

*有機光感測器 （OPD， Organic Photodiode）

*鈣鈦礦光感測器 （PPD， Perovskite Photodiode）

*量子點光感測器 （QDPD， Quantum Dots Photodiode）

*新型材料光感測器

實證

# NEP/D*

PD-QE可直接針對器進進行頻率雜訊的測量與作圖。

# EQE 光譜

PD-QE 可以進行 EQE 光譜測試。除了標準的 300nm ~ 1100nm 波段，PD-QE 可擴展到 1800nm。圖中顯示不同波長響應器件，在 PD-QE 系統下，測的 EQE 量子效率光譜。

# 整合多種SMU控制進行IV曲線測試

PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產的多種 SMU，進行多種的 IV 曲線掃描。用戶無需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測試。圖中顯示 PD-QE 測試不同樣品的 IV 曲線，并進行多圖顯示。

#噪聲電流頻譜圖

PD-QE 憑借*進數字訊號采集與處理技術，直接可測試各種探測器在不同頻率下的噪聲電流圖。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進行測種測試！并且軟件可以進行多種頻段的特性分析，如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是針對新世代 PD 測試的完整解決方案。