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光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個完整的系統，可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進提供思路。

在半導體器件中，不完好的結晶度往往會導致禁帶隙中的缺陷或陷阱態，這極大地影響了器件的整體光學和電學性能。由于帶隙中的吸收系數極低，產生的光電流信號也極弱。因此，需要高度靈敏的檢測系統。 Enlitech 的 FTPS 是一種高靈敏度的光電流和外量子效率 (HS-EQE) 光譜系統。它利用傅里葉變換信號處理技術來增強和突破光電流信號檢測極限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 個量級）*。

激光掃描缺陷成像儀是激光束感應電流（LBIC）測試的升級版本。它利用波長能量大于半導體帶隙的激光束照射半導體，產生電子空穴對。通過快速掃描樣品表面，獲得揭示內部電流變化的圖像分布，從而分析各種缺陷分布。這有助于分析樣品制備的質量并有助于工藝改進。

PD-RS光電器件響應測量與光偵測器可針對光電器件 (探測器或光伏器件) 進行光電轉換過程的響應行為測量與分析。

光電流、開路電壓的瞬態特性、載流子遷移率、載流子壽命、載流子動力學過程等是新型太陽電池器件的重要參數。由于新型太陽電池器件面積小、光電流小，非常難以準確測量出光電流隨時間的變化，鈣鈦礦太陽能電池瞬態光電流光電壓測試儀可對有機太陽能電池OPV、鈣鈦礦太陽能電池PSC、量子點太陽能電池、染料敏化太陽能電池DSSC、無機太陽能電池等光電器件進行微觀機理測試，進而全面分析光電器件中的載流子特性