特色

*無損光學檢測。

*高度準直梁角 /高準直波束角<0.05度 ，<0.1度 <0.5度 ，<1度，<3度 （不同型號）

*高均勻光束點：≥ 99%。

*光的不穩定性≤1%。

*高動態範圍測試能力：80dB~140dB（不同型號）。

*可以測試CMOS圖像感測器參數。 量子效率、光譜回應、系統增益、靈敏度、動態範圍、暗電流/雜訊、信噪比、飽和容量、線性誤差（LE）、DCNU（暗電流不均勻性）、PRNU（光回應不均勻性）、CRA。

*全光譜波長範圍：300nm-1100nm或350nm~1000nm（PTC）。

*波長可擴展至1700納米以上。

*DUT 封裝：CIS 模組，PCB 板級，CIS 攝像頭，有/無微透鏡。

*SG-A和DUT之間的 “直接 "或 “握手 "通信協定。

*定製的測試夾具和平臺（手動或自動，最多6軸）。

*功能完整的分析軟體ARGUS®。

*應用：指紋識別（CIS+鏡頭，CIS+準直器，TFT陣列感測器）CIS的微透鏡設計，晶圓級光學檢測，CIS DSP晶片演算法開發，Si TFT感測器面板，飛行時間相機感測器，接近感測器（量子效率，靈敏度，線性度，SNR等），d-ToF感測器，i-ToF感測器，多光譜感測器，環境光感測器（ALS），指紋顯示（FoD）感測器。

系統設計

規格

光焱科技SG-A CMOS圖像感測器測試儀的功能很好，因此相關的規格和配件也很齊全。 更多細節可再瞭解。

以下是主要的能力規格：

– 全光譜的波長範圍：300-1100nm或350-1000nm（PTC）

– 波長範圍可以擴展到1700 nm或更高

– 單一波長源：470nm、530nm、630nm、940nm（±5nm），或自定義

– 動態範圍：80dB、100dB或140dB

– 測試夾具：DUT≤100mm x 100mm x 30mm（高度）[基本型]或定製

– 平臺：非、手動3軸，或6軸（手動+自動）平臺（可定製）

應用範圍

光焱科技SG-A CMOS圖像感測器測試儀可用於：

*指紋識別（CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT-陣列感測器）

*CIS的微透鏡設計，晶圓級光學檢查

*CIS DSP 晶片的演演算法開發

*Si TFT 感測器面板

*飛行時間相機感測器

*近距離感應器 （量子效率、靈敏度、線性度、SNR等。 )

*d-ToF感測器、i-ToF感測器

*多光譜感測器

*環境光感測器 （ALS）

*指紋顯示（FoD）感測器